隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，各行各業(yè)對各種氣體的要求越來(lái)越高，特別是氣體中微量水分的測量就顯得更加重要。 露點(diǎn)法是一種古老的溫度測量方法、隨著(zhù)電子技術(shù)的發(fā)展，露點(diǎn)技術(shù)趨于完善�，F代的光點(diǎn)露點(diǎn)儀采用熱電制冷，并且可以自動(dòng)補償零點(diǎn)和連續跟蹤測量露點(diǎn)。露點(diǎn)儀建立在可靠的理論基礎上，具有準確度高，測量范圍寬的特點(diǎn)，其準確度僅次于重量法濕度計。因此，它不僅是一種工作儀器，而且也是長(cháng)期以來(lái)普遍采用的標準儀器。露點(diǎn)儀廣泛用于工業(yè)過(guò)程和實(shí)驗室的溫度測量與控制，以及氣體行業(yè)中水分指標測量等。在現代溫度測量技術(shù)中占有相當重要的位置。 如何正確使用露點(diǎn)儀以及在實(shí)際測量中應注意的問(wèn)題：

　　1. 鏡面的污染對露點(diǎn)測量的影響 在露點(diǎn)測量中，鏡面污染是一個(gè)突出的問(wèn)題，特別是工業(yè)流程氣體分析污染的影響是比較嚴重的，但即使是在純氣體的測量中鏡面的污染亦會(huì )隨時(shí)間的增加而積累。為了消除污染的影響，最直觀(guān)的方法是對被測氣體進(jìn)行過(guò)濾。同時(shí)根據具體情況定期或隨時(shí)清洗鏡面。此外，通過(guò)對鏡面的加熱，并通氣吹除污染雜物，在污染比較明顯的情況下也可以多次重復進(jìn)行節露和消露過(guò)程來(lái)實(shí)現。

　　2. 低霜點(diǎn)測量中的問(wèn)題 露點(diǎn)儀是微量水測量中為數不多的最有效的手段之一。但是在測量中有些問(wèn)題必須給予充分的注意。首先是影響檢測的霜層厚度問(wèn)題。在低含水量的情況下，霜層很薄，變化也慢，增加了檢霜的困難，如露點(diǎn)低于-65℃，鏡面上水分子移動(dòng)性很小，結晶速度相應下降，從霜層的出現到相對穩定需要一定時(shí)間。霜點(diǎn)溫度越低，困難越大，測量誤差也迅速增加。

　　研究表明，當霜點(diǎn)溫度接近-85℃是鏡面上形成藍色絲狀結晶的薄霧。在這個(gè)溫度附近霜層的質(zhì)量密度10-8gm-2相當于一個(gè)分子層的厚度，由此可見(jiàn)，在更低的霜點(diǎn)溫度下測量是難以進(jìn)行的。

　　另一個(gè)是過(guò)程問(wèn)題，這種現象容易在高空探測中發(fā)生。 在低溫下，由于冰的結晶過(guò)程緩慢，往往在達到霜點(diǎn)溫度時(shí)霜層還未出現，當溫度繼續降低，水開(kāi)始結冰，在過(guò)飽和狀態(tài)下霜層迅速形成。但此時(shí)的飽和水氣壓不是冰而應該是過(guò)冷水的飽和水氣壓，如上所述，由于過(guò)冷現象，霜點(diǎn)測量誤差有時(shí)高達幾度，因此，低霜點(diǎn)測量要特別小心，保持足夠長(cháng)的平衡時(shí)間。

　　除上所述還需注意下列幾個(gè)問(wèn)題。 ü 氣路系統一定要密封性好，以防止外界環(huán)境水分往里滲漏 ü 如果被測氣體直接排放入大氣，應考慮大氣中的水分向測量系統內部擴散的問(wèn)題，最常用的辦法時(shí)在排氣口接上一段適當長(cháng)的管子，其長(cháng)度個(gè)管徑以不影響測量腔的壓力為原則。 ü 取樣管要盡量短，盡量減少接頭的數量和避免“死空間”，以減少本底水分的干擾。 ü 取樣管道要選用滲水性強的材料，如不銹鋼，聚四氟乙烯等。

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